●簡単な前頭葉機能テスト
小 野 剛
ヒトの前頭葉損傷後の精神症状を調べる神経心理学的テストは数多く存在するが、機能障害の脳局在を同定できるテストはまだない。そこで、いくつかのテストを組み合わせて実施し、結果を統合解釈する手法がとられるが、現存する前頭葉のテストはどれも特別な検査器具を必要としたり、検査に長時間かかったりと臨床の場面で用いるには問題が多い。対して、本稿で紹介したDuboisらのFrontal Assessment Battery (FAB)は前頭葉障害のスクリーニングテストとして、非常に簡便でかつ妥当性、信頼性とも高いテストバッテリーである。特別な器具を必要としない簡単な6つのサブテストからなるFABは、臨床での実用に十分耐え、広く普及するだけの価値があると思われる。
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